基于光栅和CCD成像探测器的宽动态范围成像系统

专利号：200910241234.4

发布时间：2019-04-03

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基于远场性能制表的自适应光学系统标定装置

专利号：200910241233.X

发布时间：2019-04-03

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基于条纹特征提取算法的相干合成相位测控装置

专利号：200810226223.4

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一种高分辨率眼底血管流速测量系统及测量方法

专利号：200810102398.4

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人眼高阶像差校正视觉仿真系统

专利号：200410009116.8

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基于微棱镜阵列夏克－哈特曼波前传感器的人眼像差和角膜面形测量系统

专利号：200410068953.8

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双眼体视高阶像差矫正视觉仿真系统

专利号：200410009043.2

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基于脉冲激光散射光同步的距离选通同步控制装置

专利号：201210088177.2

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电视成像系统光轴调整装置及调整方法

专利号：201110311204.3

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一种用于接近式纳米光刻二维光栅对准系统

专利号：201510001996.2

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一种气浮导轨

专利号：201410153183.0

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一种投影物镜焦面形状测量标记装置及应用

专利号：201310648361.2

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一种基于自适应技术的二维平面采样算法

专利号：201310231667.8

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一种宽波段光纤-CCD耦合成像镜头

专利号：201410625756.5

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一种基于二维双频光栅剪切干涉的纳米级检焦方法

专利号：201410479923.X

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一种单倍率对称式投影曝光物镜

专利号：201410479916.X

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一种应用于投影光刻机的大视场投影曝光物镜

专利号：201410477962.6

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基于数字扫描白光干涉的微纳结构形貌测量装置及方法

专利号：201410157861.0

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一种大视场高数值孔径的i-line光刻机投影物镜

专利号：201410076527.2

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一种用于i线大面积平板投影光刻机物镜

专利号：201410076488.6

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一种二自由度高精度大行程气浮工件台

专利号：201310630092.7

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一种三自由度纳米定位微动硅片台

专利号：201310270299.8

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一种气浮导轨

专利号：201210404463.5

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一种适用于双工件台投影光刻机的检焦装置

专利号：8760626 美国专利

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一种EMCCD相机致冷系统冷屏装置

专利号：201310646743.1

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一种针对合作标志器位姿测量的特征点识别方法

专利号：201510293398.7

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一种基于三角形边长、内角、形状因子加权约束的单目视觉位姿测量方法

专利号：201510292629.2

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一种基于矩形周长和面积加权约束的单目视觉位姿测量方法

专利号：201510290560.X

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一种基于四面体边长和体积加权约束的单目视觉位姿测量方法

专利号：201510290582.6

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一种航测相机定点拍摄预测控制方法

专利号：201510197360.X

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针对1553B总线通信中远程终端自动化测试的方法

专利号：201510002000.X

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一种提高成像光学镜头力学稳定性的装置及方法

专利号：201410655147.4

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一种适用于空间探测成像的基于FPGA的自动曝光控制方法及其装置

专利号：201410476774.1

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一种用于光学成像相机整机系统传递函数的测试装置及其测试方法

专利号：201410476257.4

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一种适用于空间探测成像的基于自适应预期图像平均亮度的自动曝光控制

专利号：201410476250.2

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一种高压正弦波驱动信号发生装置

专利号：201410124087.3

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一种高压方波驱动信号发生装置

专利号：201410116290.6

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一种低噪声电荷耦合器件前端模拟视频信号预处理装置

专利号：201410116241.2

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一种用于驱动电荷耦合器件的时序发生装置

专利号：201410106542.7

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一种高压方波增益驱动信号幅度控制装置

专利号：201410116648.5

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