乙中南（公司）（未认证）

一种晶体内部体缺陷的检测方法，包括以下步骤：S1、取经过检测的存在内部体缺陷的晶体；S2、利用线光源从晶体侧面进行照射，以获取包含晶体内部体缺陷的散射光的晶体层析图像；对晶体层析图像进行大小修正；S3、对修正后的晶体层析图像进行时序分析及处理，突出缺陷点的特征；S4、结合已知晶体的内部缺陷位置及该位置的检测时序信号，训练RNN模型得到晶体内部缺陷检测模型；S5、重复训练得到最终晶体内部缺陷检测模型；S6、将经过S2‑S3处理得到的待测晶体的时序信号输入最终模型中，即得到内部缺陷位置信息；S7、根据缺陷在平面上的表征滤除假缺陷。本发明解决了目前晶体内部缺陷识别过程复杂和识别效率低的问题。

第一步：对接专利转让需求客户。

第二步：专利转让人和专利受让人签署专利转让合同。

第三步：双方准备好专利转让需要的相关文件。

第四步：将相关的文件递交给专利局。

第五步：等待专利转让结果。

买卖双方需提供的材料
	企业或组织	个人
受让方	①营业执照复印件 ②专利权转让协议 ③专利代理委托书	①身份证复印件（签名） ②专利权转让协议 ③专利代理委托书
转让方	①营业执照复印件 ②专利权转让协议 ③没有变更记录的专利需提供《专利请求书》 有变更记录的专利需提供《手续合格通知书》 ④下证专利需提供专利证书原件。 ⑤若有代理机构提供《解除委托代理协议》	①身份证复印件（空白处签名） ②专利权转让协议 ③没有变更记录的专利需提供《专利请求书》 有变更记录的专利需提供《手续合格通知书》 ④下证专利需提供专利证书 ⑤若有代理机构需提供《解除委托代理协议》